CGD, 2D 바코드를 GaN 칩 상에 통합

웨어퍼 상의 IC 제조 위치 식별…프로세스 견고성 및 신뢰성 향상
웨이퍼 위치에 따른 디바이스 성능 결정 요소 파악 가능

2023.10.26 16:01:38
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